上周，一份關(guān)于“SSD在不通電狀態(tài)下7天便會(huì)丟失數(shù)據(jù)”的新聞傳的沸沸揚(yáng)揚(yáng)，不少不明真相的吃瓜群眾被新聞里提到的“希捷工程師”、“大量數(shù)據(jù)證明”、“斷電7天就會(huì)丟失數(shù)據(jù)”等字眼嚇到，紛紛表示：這下SSD都靠不住了！

面對(duì)這種局面，一向以嚴(yán)謹(jǐn)著稱的AnandTech坐不住了，近日，他們刊文對(duì)“SSD待機(jī)7天掉數(shù)據(jù)”進(jìn)行了辟謠。作為比較早期的SSD用家（至今已經(jīng)換過四塊SSD了，從32G一路用到256G），筆者對(duì)這篇辟謠文感觸頗多，因此將之編譯與諸君共享，并附上我個(gè)人的一些補(bǔ)充與看法。

首先，與一些網(wǎng)站報(bào)道的不同，AnandTech指出這份引起諸多爭議的報(bào)告并非出自希捷公司，而是以JEDEC（固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì)）官方資料的名義發(fā)布的。作者Alvin Cox雖然在希捷任職（因此他在報(bào)告的作者那里寫上了希捷）但是他是以SSD委員會(huì)主席的名義發(fā)表的此篇報(bào)告，而JEDEC為所有儲(chǔ)存公司的聯(lián)合標(biāo)準(zhǔn)化組織，因此這篇報(bào)告意圖在于對(duì)所有廠商提出告誡（而非針對(duì)任一特定廠商）。

在解釋數(shù)據(jù)丟失的真相之前，AnandTech認(rèn)為他們需要先解釋一下SSD的生產(chǎn)廠商是如何定義SSD的可靠性的：首先，SSD需要保證其使用容量，因此廠商無法預(yù)留很多OP空間；其次，SSD必須滿足UBER（每bit讀取操作的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤數(shù)量）的標(biāo)準(zhǔn)（簡單來說就是誤碼率不能太高）；最后，SSD必須滿足在掉電情況下數(shù)據(jù)保存一段時(shí)間（符合JEDEC對(duì)此的規(guī)定）。需要注意的是，這三條是基于SSD所寫明的最大寫入壽命來實(shí)現(xiàn)的，比如某SSD規(guī)定寫入量100TB，那就意味著在寫入100TB之后仍然需要滿足以上三條，才能算作是滿足可靠性要求。

上表展示了家用和商用環(huán)境下對(duì)SSD可靠性的不同規(guī)定，我們可以看到，家用SSD的斷電數(shù)據(jù)保存時(shí)限是在30攝氏度下保存一年，這一溫度已經(jīng)高于一般家庭環(huán)境的年均室內(nèi)溫度。那么溫度是如何影響SSD的數(shù)據(jù)保存的呢，AnandTech對(duì)此進(jìn)行了進(jìn)一步解釋。

這就是從那篇惹禍的報(bào)告中提取出的表格，注意此表中的測試數(shù)據(jù)基于某IntelSSD，而非希捷的產(chǎn)品。

在40攝氏度的操作溫度、30攝氏度的存放溫度下，普通家用SSD可以保持一年的數(shù)據(jù)有效時(shí)間。 從表中可以看出，操作溫度（也就是通電時(shí)的溫度）對(duì)SSD的數(shù)據(jù)壽命有正面的影響而保存溫度（斷電期間的溫度）對(duì)數(shù)據(jù)壽命則是負(fù)面的影響。在最糟糕的情況下（通電溫度25-30度，斷電溫度高達(dá)55度），數(shù)據(jù)保存時(shí)間可以短至一周：沒錯(cuò)，這就是被傳的沸沸揚(yáng)揚(yáng)的“SSD數(shù)據(jù)只能存放一周”的出處，然而這種情況根本不可能在實(shí)驗(yàn)室以外的地方發(fā)生。

55度的存放溫度意味著用戶放置電腦的房間氣溫高達(dá)55度（而不是說的機(jī)箱內(nèi)部溫度，因?yàn)檫@個(gè)時(shí)候電腦是關(guān)機(jī)的，SSD是斷電的）；反之，一般用戶電腦在使用時(shí)的內(nèi)部溫度都至少有40度以上（即SSD的操作溫度）！

SSD的儲(chǔ)存原理是基于半導(dǎo)體晶格所儲(chǔ)存的電子數(shù)目：當(dāng)SSD被加電寫入數(shù)據(jù)的時(shí)候，晶格被充電，內(nèi)部為電子所占據(jù)，而讀取數(shù)據(jù)的原理則是用一個(gè)低壓電信號(hào)去偵測晶格中是否存在電子。當(dāng)SSD斷電，晶格變?yōu)榻^緣體并封住其中的電子，但溫度的升高會(huì)導(dǎo)致電子的布朗運(yùn)動(dòng)變得劇烈并有更大的幾率從晶格中逃逸，從而造成晶格內(nèi)部的電壓（電子數(shù)量）低于可探知（讀?。┑恼７秶腕w現(xiàn)為數(shù)據(jù)的丟失。

而當(dāng)SSD處于通電狀態(tài)時(shí)，溫度的適度升高所起到的作用就正好相反，由于升高的溫度會(huì)增強(qiáng)硅的導(dǎo)電性，從而使寫入/擦除操作的電流升高，對(duì)隧道氧化層的壓力減小，增強(qiáng)了晶格在斷電后保存電子的能力，因?yàn)榫Ц窬褪强克淼姥趸瘜觼矸乐闺娮犹右莸摹?/p>

總之，用戶完全無需擔(dān)心在典型使用狀況下家用SSD的數(shù)據(jù)壽命問題，畢竟誰家的氣溫都不會(huì)有50度那么高：真到了那個(gè)程度，在擔(dān)心SSD數(shù)據(jù)之前先逃命吧。經(jīng)過長期的實(shí)踐和仿真測試證明，即使是一般的家用MLC SSD，也至少可以安全地用上10年之久。

筆者按：其實(shí)AnandTech在這里還忽略了兩點(diǎn)因素，一是現(xiàn)有的SSD大都具備對(duì)出錯(cuò)數(shù)據(jù)的校驗(yàn)糾錯(cuò)能力和對(duì)電壓發(fā)生偏移的晶格進(jìn)行強(qiáng)制讀取的能力。前者就是ECC，而后者則多見于配備TLC閃存的SSD上（因?yàn)門LC閃存在長時(shí)間不操作之后很容易發(fā)生晶格中的電子泄漏，因此通過控制讀取電壓的偏移值對(duì)已經(jīng)發(fā)生泄漏的晶格強(qiáng)制讀取是所有TLC SSD的必備功課。）

再一個(gè)就是無論那篇嚇人的報(bào)告還是AnandTech的辟謠都沒有提到SSD的制程問題，目前19nm和16nm制程的閃存，其晶格已經(jīng)小到只能存儲(chǔ)不到20個(gè)電子，因此因高溫而導(dǎo)致數(shù)據(jù)出錯(cuò)的可能性理論上確實(shí)是存在的；但幾大閃存巨頭即將引入3D V-NAND技術(shù)（三星已經(jīng)用上了，Intel和鎂光也已經(jīng)公布了量產(chǎn)計(jì)劃），通過把晶格從“平房”改為“樓房”可以極大地?cái)U(kuò)大每一個(gè)晶格的容積，有效緩解電子穿隧效應(yīng)對(duì)數(shù)據(jù)安全的影響。

總之，不管最初把那篇業(yè)界報(bào)告斷章取義、大肆渲染的媒體意欲何為，至少有了AnandTech權(quán)威的辟謠，SSD用戶們不用再擔(dān)心自己的數(shù)據(jù)安全了，在此，筆者也希望那些媒體，特別是科技媒體們，秉持你們的專業(yè)素養(yǎng)，不要參與到這種毫無營養(yǎng)，害人害己的行為中來。

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