最近有一篇關于SSD固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)可靠性的文章很流行，說是希捷的一位工程師Alvin Cox研究發(fā)現(xiàn)固態(tài)硬盤在不通電的情況下數(shù)據(jù)會隨著時間流失，而且溫度對SSD可靠性也有非常大的影響，最后總結出大多數(shù)SSD的可靠年限只有2年，建議重要數(shù)據(jù)不要用SSD保存。權威專家+可怕的后果+危言聳聽的寫法——這簡直是完美的QQ空間以及現(xiàn)在的微信圈范本，尼瑪，什么時候這也擴散到DIY圈子了？

雖然現(xiàn)在大家都知道了SSD的好處了，但SSD始終繞不開的一個問題就是數(shù)據(jù)可靠性，先天性的P/E操作既給了SSD超強的性能，也給它帶來了隱患——數(shù)據(jù)壽命是有限的，升級帶TLC會導致壽命減少，升級到更先進的制程也會導致壽命減少，不明真相的人民群眾難免要懷疑SSD的壽命了，這本來很合理，但前面提到的那個SSD不通電都能導致數(shù)據(jù)流失的傳聞是真的嗎？

一個成功的謠言絕不會100%都是錯誤的，高明的撒謊者總會三分真中摻雜七分假，前面這個謠言也是如此——SSD不通電會流失數(shù)據(jù)以及溫度對SSD壽命有影響的說法是對的，但把這個影響夸張到如此地步就不對了，Anandtech網(wǎng)站現(xiàn)在就出了一個打臉辟謠文章。

首先是前面那個報告作者Alvin Cox的身份，這篇報告并不是出自希捷公司的，而是JEDEC組織，Alvin Cox曾是JC-64.8標準小組（也就是SSD委員會）的主席，不過有一點是正確的——Alvin Cox本人確實是希捷公司資深工程師，只不過這跟他發(fā)表報告無關，JEDEC組織本身就是廠商們的聯(lián)合組織，成員來自不同廠商是很正常的事，目前JC-64.8標準小組是HGST公司的Frank Chu領導的。

在回答前面有關SSD數(shù)據(jù)保留問題之前，我們先來了解下廠商是如何確定SSD可靠率的。首先，SSD必須保證一定的容量，因此不可能把很多區(qū)塊（blocks）用于OP空間之類，這樣做會降低用戶的可用容量（SSD的這個特點可以參考我們之前的文章解釋）。第二，SSD必須達到規(guī)定的UBER及FFR指標，下面的表格解釋了UBER和FFR的含義，前者是SSD讀取字節(jié)中出錯的字節(jié)比例，F(xiàn)FR則是功能失效的比例，消費級及企業(yè)級SSD在這兩個指標上有不同的要求，消費級SSD的UBER是10-15，也就是1/1015的字節(jié)讀取失敗率，F(xiàn)FR不能高于3%。

最后一點就是SSD不通電狀態(tài)下要達到JEDEC規(guī)定的數(shù)據(jù)保存率，消費級SSD是30°C溫度下1年，企業(yè)級是40°C下三個月。

以上指標最后都是用TBW來表示，這也就是我們看到的SSD標識中數(shù)據(jù)寫入量的意義，比如100TB數(shù)據(jù)寫入壽命，這意味著在寫入100TB數(shù)據(jù)時其指標也能達到上述要求。

這個表格來自Intel

溫度確實也會對SSD的數(shù)據(jù)保存造成影響，從Intel給出的消費級SSD關機溫度及活動溫度下的保存時間來看，40°C活動溫度、30°C關機溫度下SSD的數(shù)據(jù)保存時間是52周，也就是一年。關機溫度越高，SSD數(shù)據(jù)保存時間就會越短，活動溫度25-30°C但關機溫度55°C時，SSD保存數(shù)據(jù)的時間就只有1周了，這就是之前的謠言中“數(shù)據(jù)保存時間只有幾天”的來源了，這種情況確實會發(fā)生，但根本不具有代表性。

現(xiàn)實中55°C的關機溫度幾乎不可能（PS：如果真有這樣的情況，我覺得這時候應該先關心自己的人身安全而非數(shù)據(jù)安全了），因為大部分SSD還是在室溫環(huán)境下使用，溫度通常都在30°C以內(nèi)?；顒訒r的溫度通常是40°C左右，系統(tǒng)內(nèi)其他部件也會產(chǎn)生熱量的。

最后從技術上解釋下這個數(shù)據(jù)保存的問題。半導體的導電性跟溫度息息相關，這對NAND閃存來說不是好消息，因為斷電之后電子理應不再移動，否則就會改變Cell單元的電荷。換句話說，隨著環(huán)境溫度的升高，電子會更快地從浮柵極逃離，最終會導致Cell單元的電壓狀態(tài)改變，導致數(shù)據(jù)不可讀。（也就是SSD不能再保存數(shù)據(jù)）

活動狀態(tài)下則是另一回事，更高的溫度會硅基導電性更高，P/E操作過程中電流量更高，隧道氧化層的壓力更少，這會提高Cell單元的可靠性，因為SSD可靠性主要就是受限于隧道氧化層保持浮柵極中的電子的能力。（NAND的讀寫原理也可以參考我們之前的文章）

總之，在典型的SSD使用環(huán)境下，我們根本不需要擔心SSD的數(shù)據(jù)保留問題。前面的表格還只是通過了可靠性測試，全新的SSD數(shù)據(jù)保留率會更高，對MLC NAND閃存來說通常是10年。如果你買了一個SSD放著不用，那么它直接被淘汰的可能性實際上比SSD不能保留數(shù)據(jù)的可能性更大。

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